微波暗室的测试主要包括的是近场测试、远场测试、紧缩场测试以及天线罩测试。下面为大家做出以下关于微波暗室测试的相关介绍。

关于天线罩测试，对天线罩进行测试其目的就是为了找出天线罩的电气特性，譬如天线罩的瞄准误差和天线罩透波率。天线罩测试系统主要由这么几部分组成；

a.寻零器扫描架子系统，通常是一个小型的多轴扫描架，控制驱动器及电缆组件组成。

b.射频子系统，包括发射源，接收机及射频电缆组件。

c.特殊的多轴转台子系统，包括控制驱动器及电缆组件。

d.系统主控器及一个负责给转台子系统发定位指令，采集测试数据和分析测试结果的系统软件。每个天线测试应用都有自己的独立特点，而我们提供的天线罩测试系统也有很多不同规格的选择。具体的系统需要根据用户的具体情况进行配置。